微区原位硫同位素新技术研究进展

摘要

综述了十余年来激光剥蚀等离子体质谱（LA-MC-ICP-MS）和二次离子质谱（SIMS）测定硫化物硫同位素的新进展,着重介绍了质谱干扰和同位素质量分馏效应的关键技术难点和校正方案.LA-MC-ICP-MS和SIMS都可实现黄铁矿、黄铜矿、闪锌矿、方铅矿、磁黄铁矿、镍黄铁矿、辉钼矿的微区δ³⁴S准确测定,测试准确度和传统的整体分析测试技术相当,测试精密度（重现性）在0.17‰～0.45‰.目前硫化物硫同位素标准物质主要是黄铁矿、黄铜矿、磁黄铁矿、闪锌矿等矿物,缺乏其他硫化物类型的标准物质.改进仪器设备硬件或关键部件,系统深入调查仪器中的同位素质量分馏和基体效应,开发新的高质量硫化物硫同位素标准物质将是未来微区原位硫化物硫同位素测试主要发展方向.

关键词

硫 / 同位素 / LA-MC-ICP-MS / SIMS / 微区分析 / 标准物质 / 地球化学