光学微腔中WSe₂激子与光子耦合效应的研究

摘要

研究了300 K下,自制的法布里-珀罗(Fabry–Pérot, F-P)半导体微腔中,光场与WSe2单分子薄膜激子之间的强弱耦合作用.利用集成角分辨功能的显微荧光/白光反射光谱系统研究了样品的光学性质,并在强耦合区间内看到了激子极化激元的形成,对应的拉比分裂能量为46.7 meV.理论拟合结果跟实验现象吻合,为激子极化激元相干特性的进一步研究奠定了基础,也为未来的工业光电器件应用提供了思路.

关键词

半导体微腔 / 单分子层薄膜 / 强耦合 / 激子极化激元