利用软X射线吸收光谱研究S型光催化剂的电荷转移机制

摘要

<正>近年来，光催化领域中S型异质结的研究占据了重要地位[1–3]。这是因为S型异质结由氧化型光催化剂(OPs)和还原型光催化剂(RPs)组成。通过界面电荷转移，光生电子和空穴分别富集在RPs的导带(CB)和OPs的价带(VB)中[4,5]。这使催化剂的氧化还原能力最大化，从而显著提高了催化剂对太阳能的利用率[6,7]。电荷转移对构建高效S型异质结至关重要。目前已探索出多种方法来分析S型异质结的电子转移特性，包括原位辐照X射线光电子能谱(ISI-XPS)、原位开尔文探针力显微镜和原位电子顺磁共振等。然而，尚未有人采用原位软X射线吸收光谱(sXAS)来验证S型异质结的电荷转移。