向列相液晶器件光调制性能研究

摘要

液晶的折射率易受外加电压和温度的影响，据此可获得电场和温度可调制器件。为改善液晶器件对光的调制性能，制备了向列相液晶器件，并对其调制性能进行理论模拟和实验研究。首先研究液晶器件的透过光强和相位延迟随电压变化关系，结果显示，相同电压下，增大器件厚度，光强调制曲线的峰谷数增多，相位调制量增大，其中电压在0.8～3 V范围内，相位延迟曲线变化较明显，厚度为4、6和10μm的器件可分别获得约1.21π、1.87π和3.19πrad的相位调制量。其次对厚度为4μm的器件进行温度可调制性能的研究，结果显示，温度从20℃升至45℃时，获得的温度可调制量约为0.29πrad。改变电场或温度均能引起液晶的折射率变化，从而实现对光的调控，适当增加液晶器件厚度可获得较大的相位调制量。研究结果对液晶光调制器件的性能改善及应用具有重要参考意义。

关键词

液晶光调制器 / 向列相液晶 / 光强调制 / 相位调制