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摘要
为了减少三维集成电路(three-dimensional integrated circuit,3D IC)物理设计中不同层之间的硅通孔(throughsilicon via,TSV)数量,降低芯片制造成本,提出一种基于变邻域搜索算法(variable neighborhood search,VNS)的3D IC分区方法。应用最小割线算法将二维电路划分为若干个分区,其中分区数量等于需求层数;利用线性排序算法对分区进行堆叠排序,以找到最少长连接数量的层放置顺序;通过改进的VNS将单元进行层间移动,并引入力导向的机制减小邻域搜索的空间,以进一步减小TSV的数量。通过国际通用的基准实例进行测试分析,并与目前性能最佳的力导向模拟退火算法(force-directed simulated annealing,FSA)方法进行对比。实验结果表明,本文提出的3D IC分区算法与FSA方法相比,均获得最佳的平均TSV总数,并且求解时间平均减少了94%。本文的算法能有效解决3D IC分区问题,具有较好的实用价值。
关键词
三维布局
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硅通孔
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分区
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变邻域搜索算法
Key words
基于变邻域搜索算法的三维集成电路分区方法[J].
工业工程, 2025, 28(02): 28-36 DOI: