基于改进YOLOv7-tiny的PCB表面缺陷检测

解琳, 韩跃平, 翟倩, 李瑞红

测试技术学报 ›› 2025, Vol. 39 ›› Issue (01) : 81 -87.

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基于改进YOLOv7-tiny的PCB表面缺陷检测

    解琳, 韩跃平, 翟倩, 李瑞红
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摘要

实现实时印刷电路板(Printed Circuit Board, PCB)表面缺陷检测是提高PCB制作工艺流程智能化的基础,针对原始PCB检测方法耗时长、精度低、不易移动的问题,提出了一种基于YOLOv7-tiny的改进模型。将YOLOv7-tiny中的SiLU激活函数替换为ELU函数,引入集中综合卷积模块(C3模块),将深度可分离卷积与C3相结合,构成集中综合深度可分离模块,并添加卷积块注意模块。经实验,改进后的模型在检测准确性、召回率以及均值平均精度上都表现出色,相较于原模型大小下降了2.8 MB。与其他主流的目标检测方案对比,也表现出较好的检测效果。改进后的YOLOv7-tiny能够保持更高的准确性,同时还减少了模型的内存需求,这为PCB缺陷的实时检测以及边缘部署提供了新的可能性。

关键词

目标检测 / YOLOv7-tiny / 激活函数 / 集中综合深度可分离模块 / 注意力机制

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基于改进YOLOv7-tiny的PCB表面缺陷检测[J]. 测试技术学报, 2025, 39(01): 81-87 DOI:

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