Gen3 SRIO交换芯片功能测试系统设计

冯雪健; 张健; 李建成; 许凯亮

测试技术学报 ›› 2026, Vol. 40 ›› Issue (02) : 248 -258.

冯雪健, 张健, 李建成, 许凯亮

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摘要

系统级测试作为功能测试的一种形式，用于发掘在特定应用场景下芯片潜在的“边际”缺陷。为满足国产第三代串行RapidIO(Generation3 Serial RapidIO, Gen3 SRIO)交换芯片BRXS2448RH系统级测试需要，设计了功能测试系统。阐述了功能测试系统各模块具体实现方案，基于方案完成了测试系统原理图和印制电路板设计。BRXS2448RH可原位替代瑞萨电子（Renesas Electronics Corporation）RXS2448 Gen3 SRIO交换芯片。以RXS2448为标准测试对象，验证了功能测试系统各模块功能。RXS2448在功能测试系统上可正确启动并稳定运行。分别通过JTAG和I2C接口可实现对RXS2448功能配置和状态查看，SRIO接口通信速率支持12.500 0 Gbaud。