基于FPGA的DRAM存储器容错实验教学设计

田毅, 马世耀, 陈庭康, 张博文, 史春蕾

实验科学与技术 ›› 2025, Vol. 23 ›› Issue (05) : 111 -117.

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基于FPGA的DRAM存储器容错实验教学设计

    田毅, 马世耀, 陈庭康, 张博文, 史春蕾
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摘要

在安全应用场景中,数据的完整性备受关注。作为计算机系统的核心记忆元部件,DRAM的容错能力对数据完整性起着关键作用。该文提出了一种基于缩短RS纠错码并融合数据交织的存储器多位数据错误容错方法,并设计了教学实验。在基础实验中指导学生进行硬件实现,以促进学生掌握FPGA设计技术;在拓展实验中,要求学生在控制器电路中部署设计实现的容错电路,并加入系统总线接口模块、故障注入模块和数据交织模块,促进学生掌握系统设计和验证技术。通过创新实验教学内容和方法,帮助学生更好地理解和掌握机载电子系统的容错设计方法,从而提高学生的创新能力和工程实践能力。

关键词

容错 / 故障注入 / 动态随机存取存储器 / FPGA

Key words

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基于FPGA的DRAM存储器容错实验教学设计[J]. 实验科学与技术, 2025, 23(05): 111-117 DOI:

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