电路拓扑驱动的晶体管级时序优化算法

摘要

随着集成电路技术的飞速发展，电路设计的复杂性与日俱增，晶体管级时序优化成为提高电路性能的重要手段.针对由标准单元组成的复杂电路中关键路径延时过大的问题，提出了一种基于电路拓扑结构的晶体管级时序优化算法.该算法通过分析电路拓扑特征，精准识别电流传输的上拉或下拉路径，并结合多种优化策略，对晶体管尺寸进行精细调整，从而有效缩短了关键路径的延时.实验表明，该算法在多种电路场景下均展现出了卓越的时序优化效能.具体而言，在针对路径上所有单元的全面优化策略下，200条测试路径的前仿测试结果显示，其延时平均降低了20.7%;而当优化焦点集中于延时敏感单元时，这200条路径的前仿测试延时同样实现了8.1%的平均降幅.更进一步地，在精选的10条路径上，仅对延时敏感单元进行优化并完成版图绘制工作，后仿测试结果表明，这些路径的延时平均减少了6.8%.这一系列显著的优化成果不仅充分证明了该算法的有效性与实用性，更为未来针对延时敏感单元开展局部全定制电路设计提供了新的思路.

关键词

晶体管 / 电路拓扑结构 / 电路仿真 / 时序优化