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摘要
基于密度泛函理论(DFT),深入探讨了Cs2AgGaBr6双钙钛矿在0~20 GPa流体静压力下的结构稳定性、电子结构和光学性质。研究结果表明,Cs2AgGaBr6双钙钛矿在不同压力下均表现出良好的结构稳定性和热力学稳定性。通过HSE06杂化泛函方法计算发现,Cs2AgGaBr6为直接带隙半导体。当压力从0 GPa增大到20 GPa时,带隙值从1.05 eV减小至0.73 eV。此外,其有效质量随着压力的增加而减小,而载流子迁移率则呈现相反趋势。随着压力提升至20 GPa,沿Γ→L方向的电子迁移率达到410.07 cm2·V-1·s-1,是0 GPa时(20.06 cm2·V-1·s-1)的20.44倍。同时,材料的光学性质对于压力极为敏感,红光区域的光吸收系数、反射率和折射率均随压力的增加而增大。值得注意的是,当光子能量超过1.79 eV时,光吸收系数随压力增加而减小。研究表明,通过施加压力可以显著提升Cs2AgGaBr6双钙钛矿的载流子迁移率以及红光区域的光吸收能力,这为其在红外探测和光电存储领域的应用提供了广阔的前景,同时可为光学材料研究及技术创新提供理论支撑。
关键词
压力
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Cs2AgGaBr6双钙钛矿
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电子结构
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光学性能
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第一性原理计算
Key words
压力对Cs2AgGaBr6双钙钛矿光电性能影响的第一性原理研究[J].
内蒙古大学学报(自然科学版), 2025, 56(03): 259-267 DOI:10.13484/j.nmgdxxbzk.20250305