玉米籽粒发育突变体emp35的表型分析与基因定位

摘要

为解析玉米籽粒形成的遗传基础，探究Emp35基因在玉米籽粒发育中的作用，对籽粒缺陷突变体empty pericarp35(emp35)进行表型鉴定、胚乳细胞显微观察、胚乳贮藏物质含量测定及图位克隆。结果显示：突变体籽粒发育缓慢，明显小于同期发育的正常籽粒，成熟籽粒干瘪呈空皮状；胚乳细胞显微观察发现emp35的胚和胚乳发育严重滞后，胚乳细胞中线粒体结构异常；淀粉和蛋白质积累减少；F_2代分离果穗上正常籽粒与发育缺陷籽粒呈3∶1分离，表明籽粒缺陷表型由单个隐性核基因突变所致。采用集团分离分析法（bulked segregant analysis, BSA）将Emp35定位于第8染色体127.90～163.36 Mb区间，在该区间内开发了4个InDel标记，连锁作图将Emp35精细定位于139 571 117～146 176 858区间。

关键词

玉米(Zea mays L.) / 籽粒发育 / 集团分离分析法 / 基因定位 / 表型鉴定