基于动态先验特征的包覆药多类型外观缺陷深度检测框架
郭峰, 陈中舒, 代久双, 吴云峰, 刘军, 张昌华
电子科技大学学报 ›› 2023, Vol. 52 ›› Issue (06) : 872 -879.
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