有机电化学晶体管循环稳定性的衰退机理分析

徐洁, 解淼, 黄伟

电子科技大学学报 ›› 2025, Vol. 54 ›› Issue (02) : 191 -196.

PDF (1817KB)
电子科技大学学报 ›› 2025, Vol. 54 ›› Issue (02) : 191 -196.

有机电化学晶体管循环稳定性的衰退机理分析

    徐洁, 解淼, 黄伟
作者信息 +

Author information +
文章历史 +
PDF (1860K)

摘要

有机电化学晶体管(organic electrochemical transistor, OECT)作为高效的离子-电子换能器在生物电子学领域受到了广泛关注。但当前具有超高循环稳定性的OECT仍然鲜有报道,成为了阻碍其进一步发展及商业化的瓶颈问题。为了探究循环稳定性测试过程中OECT性能衰退的规律及其机理,该文对比了平面结构和垂直结构的OECT在相同测试条件下的循环稳定性,并使用光学显微镜表征了测试前后的沟道区域形貌变化;同时还对比了垂直结构OECT在不同偏置条件下的性能衰退情况。实验结果表明:OECT循环稳定性的衰退是多方面因素共同作用的结果,其中离子的反复掺杂/去掺杂过程、源极/漏极上偏置电压以及非电容性法拉第副反应的产生都会加速OECT的性能衰退。

关键词

有机电化学晶体管 / 循环稳定性 / 衰退机理 / 复合离子-电子半导体 / 生物电子学

Key words

引用本文

引用格式 ▾
有机电化学晶体管循环稳定性的衰退机理分析[J]. 电子科技大学学报, 2025, 54(02): 191-196 DOI:

登录浏览全文

4963

注册一个新账户 忘记密码

参考文献

AI Summary AI Mindmap
PDF (1817KB)

261

访问

0

被引

详细

导航
相关文章

AI思维导图

/