长时程高精度经颅直流电刺激对精神分裂症患者工作记忆的影响

摘要

目的：本研究旨在探讨长时程高精度经颅直流电刺激对精神分裂症患者工作记忆的影响。方法：研究共纳入49例患者，随机分配至真刺激组（n=25）与假刺激组（n=24）。两组均接受左侧背外侧前额叶区域的刺激，刺激电流强度为1.5 mA，每日一次，每次持续20分钟，连续进行14天。采用n-back任务评估干预前后工作记忆表现的变化。结果：对于真刺激组，干预后在多项任务中的表现均有显著改善：在0-back任务中反应时显著缩短；在1-back和3-back任务中，正确率均显著提升。结论：长时程高精度经颅直流电刺激对精神分裂症患者工作记忆具有改善效应，为其成为临床辅助干预手段奠定了基础。未来的研究重点应转向系统评估其长期疗效、经济效益及与其他疗法的协同优化策略。

关键词

工作记忆 / 精神分裂症 / 高精度经颅直流电刺激 / 背外侧前额叶