基于柱后增强电离质谱法定性分析OLED材料中低含量且难电离杂质

潘统很; 徐炫宗; 戴雷

doi:10.19770/j.cnki.issn.1008-2565.2025.03.002

北京石油化工学院学报 ›› 2025, Vol. 33 ›› Issue (3) : 7 -12. DOI: 10.19770/j.cnki.issn.1008-2565.2025.03.002

基于柱后增强电离质谱法定性分析OLED材料中低含量且难电离杂质

潘统很, 徐炫宗, 戴雷

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摘要

采用二极管阵列检测器(DAD)串联四极杆飞行时间质谱(Q-TOF)检测器的高效液相色谱(HPLC)对有机发光二极管(OLED)高纯体材料中质量分数仅为0.13%的杂质进行结构解析，在DAD与Q-TOF检测器之间增加一个用于泵入助电离溶剂的柱后补偿泵，并在进入质谱前再增加一个微型混合器。结果表明，该方法能大幅提高目标物的质谱响应值。根据杂质的紫外可见光光谱及质谱同位素丰度比、质谱碎片等信息推测出杂质结构，并通过反合成法进一步确认了所推测结构的准确性。