基于光场全息相位恢复的透明材质折射率测量

高语佳

信息记录材料 ›› 2025, Vol. 26 ›› Issue (05) : 245 -248.

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信息记录材料 ›› 2025, Vol. 26 ›› Issue (05) : 245 -248. DOI: 10.16009/j.cnki.cn13-1295/tq.2025.05.048

基于光场全息相位恢复的透明材质折射率测量

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摘要

折射率是描述物体光学性质的重要参数,在医疗、制药、材料加工和视觉显示等领域具有广泛的应用。传统干涉测量方法主要局限于微观领域,宏观物体尺寸大,对光学环境要求高,因此鲜见其相位分布与折射率研究,从而限制了对宏观材料光学性质的系统性探索。本研究提出了一种基于光场图像的全息相位恢复方法,利用光场相机记录信息,结合数字全息技术和卷积神经网络生成相位分布图,从而实现折射率的精确测量。相较于传统技术,该方法在光学环境适应性和系统复杂度控制上具有明显优势,为宏观物体的光学特性研究提供了新的视角与解决方案,为未来利用光场全息技术研究材料特性提供了方法指导,具有重要的研究意义与实际应用价值。

关键词

折射率 / 光场全息 / 相位恢复 / 宏观材料光学性质

Key words

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基于光场全息相位恢复的透明材质折射率测量[J]. 信息记录材料, 2025, 26(05): 245-248 DOI:10.16009/j.cnki.cn13-1295/tq.2025.05.048

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