一种微波组件测试指标及条件关联性分析方法

袁坤; 夏海洋; 孙毅鹏; 杜柏

doi:10.16009/j.issn.1009-5624.2026.11.061

信息记录材料 ›› 2026, Vol. 27 ›› Issue (11) : 190 -192+196. DOI: 10.16009/j.issn.1009-5624.2026.11.061

一种微波组件测试指标及条件关联性分析方法

袁坤, 夏海洋, 孙毅鹏, 杜柏

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摘要

针对传统微波组件测试系统以射频指标测试为导向，忽视环境、应力等环境条件，导致数据因果追溯难度大等问题，本研究侧重测试指标和测试条件的关联性，基于原有射频测试增加了多域传感器，改造微波组件射频测试系统为全参数数据采集分析系统。通过多域数据预处理、数据清洗对齐时间基准，采用“分域提取+多维融合”方式从力、热、光、电、射频时序数据中提取关键特征。创新性地基于PySr进行符号回归，求解各域数据对射频测试结果的影响；从数据集验证和对测试结果与条件的皮尔逊(Pearson)相关系数两方面进行验证计算。结果表明：决定系数与采用的Pearson的关联分析基本吻合，符号回归表达式，基本可以反映射频结果和条件的关系。研究成果可为微波测量组件的测量结果误差分析和影响机理分析提供参考。