首发精神分裂症患者脑部CT特征及其对临床转归的预测价值

摘要

目的 探讨基于电子计算机断层扫描（Computed Tomography,CT）脑结构测量对首发精神分裂症（First-Episode Schizophrenia,FES）患者治疗预后的预测价值。方法 回顾性地选取201例FES患者和201名健康对照，采集头颅CT图像并精确测量脑室系统和脑沟/裂的线性指标。根据阳性与阴性症状量表（Positive and Negative Syndrome Scale,PANSS）将患者分为预后良好组与不良组。比较组间脑结构差异，脑CT指标与PANSS减分率的相关性，并筛选独立预测因素。结果 FES组侧脑室体部宽度、第三脑室宽度、双额角-尾状核联合宽度及大脑纵裂后部宽度、外侧裂宽度、颞顶叶脑沟宽度均显著大于健康对照组（P<0.05）。预后不良组上述指标亦显著高于预后良好组（P<0.05）。多因素Logistic回归显示，侧脑室体部宽度、第三脑室宽度、大脑纵裂后部宽度及颞顶叶脑沟宽度的增加是FES患者临床转归不良的独立危险因素（P<0.05）。结论 本研究揭示了基于常规CT的脑结构测量可用于预测患者治疗反应，对短期治疗预后具有良好的预测价值。

关键词

首发精神分裂症 / 体层摄影术,X线计算机 / 脑室 / 脑萎缩 / 临床转归