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摘要
为检测电路板元器件的内部故障,提出一种红外热成像的电路板元器件故障诊断方法。首先,提出用于故障诊断的LGC-Net网络模型,为提升网络对全局特征提取能力,在基础网络ResNet50中引入双层注意力模块与通道特征提取模块;其次,为进一步提升故障诊断准确率,采用优化残差结构和模型预训练加微调的方式进行诊断模型构建;最后,对采集的红外热成像进行图像增强,开展故障诊断模型试验。试验表明,LGC-Net网络模型其故障诊断准确率达到98.92%,比经典网络故障诊断最优准确率提升1.9个百分点,同时单张红外热成像的诊断时间为246 ms,比其他模型诊断最短耗时降低299 ms,表明提出方法能够有效识别电路板元器件的红外热成像故障,提高电路板元器件故障诊断的准确率。
关键词
红外热成像
/
元器件
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残差结构
/
图像增强
/
故障诊断
Key words
一种红外热成像的电路板元器件故障诊断方法[J].
大连交通大学学报, 2025, 46(04): 155-160 DOI:10.13291/j.cnki.djdxac.2025.04.019