新生儿低血糖脑损伤高危因素分析

阳一平, 蔡娇, 王榜珍, 陈晓霞, 赵珣, 陈茂琼

doi:10.19984/j.cnki.1674-8972.2021.02.006

癫癎与神经电生理学杂志 ›› 2021, Vol. 30 ›› Issue (02) : 92 -97. DOI: 10.19984/j.cnki.1674-8972.2021.02.006

新生儿低血糖脑损伤高危因素分析

阳一平, 蔡娇, 王榜珍, 陈晓霞, 赵珣, 陈茂琼

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摘要

目的探讨新生儿低血糖脑损伤的高危因素及其对预后的影响。方法回顾性分析2015年1月至2018年12月贵州医科大学附属医院新生儿科收治的235例新生儿低血糖患儿的临床资料,根据是否发生脑损伤分为脑损伤组和无脑损伤组,比较两组患儿的基本情况、母孕期及新生儿疾病情况、血糖相关资料,经SPSS 24.0统计软件处理。结果 (1)本研究235例低血糖患儿中24例发生脑损伤,发生率为10.2%,男女比例为3.8∶1,其中早产儿3例(12.5%),足月儿21例(87.5%);(2)脑损伤组与无脑损伤组在性别、胎龄、出生时体重、基础疾病、首次喂养时间、发生低血糖日龄、最低血糖值、最高输糖速度、低血糖持续时间比较差异有统计学意义(P<0.05),经Logistic回归分析显示:首次喂养时间>24h、最低血糖值<1.5mmol/L、低血糖持续时间>72h是发生低血糖脑损伤的独立危险因素;(3)24例低血糖脑损伤患儿中2例失访,8例预后良好,14例预后差。结论 (1)首次喂养时间晚、血糖水平低、低血糖持续时间长、合并高胰岛素血症是低血糖脑损伤发生的高危因素;(2)低血糖持续时间是影响低血糖脑损伤预后的主要因素。