改进YOLOv11n-Seg的引线框架表面缺陷分割算法

邓万宇; 刘凯; 张立远; 尹涣鑫

doi:10.13682/j.issn.2095-6533.2026.04.011

西安邮电大学学报 ›› 2026, Vol. 31 ›› Issue (4) : 102 -112. DOI: 10.13682/j.issn.2095-6533.2026.04.011

改进YOLOv11n-Seg的引线框架表面缺陷分割算法

邓万宇, 刘凯, 张立远, 尹涣鑫

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摘要

针对复杂背景下引线框架表面缺陷对比度低、边缘模糊、形态多变的问题，提出一种改进YOLO(You Only Look Once)v11n-Seg的引线框架表面缺陷分割算法。该算法通过风车状卷积扩大图像感受野，强化基础特征提取能力。利用动态上采样模块，以点采样的方式精准恢复缺陷局部细节特征，增强模型的表征能力。最后，设计任务对齐动态分割头，结合任务分解结构与可变形卷积模块，实现分类分支与定位分支在特征层面上的深度交互。实验结果表明，与基线算法YOLOv11n-Seg相比，改进算法平均精度和平均交并比分别提升了3.8%和3.0%，能够精准捕捉空间特征、强化边界细节感知，具备高效的缺陷特征恢复与高精度分割能力。