基于电声耦合的Weyl半金属TaAs中的热电性能研究

宋伟; 董长昆; 邵和助

doi:10.16442/j.cnki.qlgydxxb.2025.03.001

齐鲁工业大学学报 ›› 2025, Vol. 39 ›› Issue (03) : 1 -7. DOI: 10.16442/j.cnki.qlgydxxb.2025.03.001

基于电声耦合的Weyl半金属TaAs中的热电性能研究

宋伟, 董长昆, 邵和助

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摘要

Bi₂Se₃和Bi₂Te₃作为拓扑材料，同时具有优异的热电性能。作为一类新型拓扑材料Weyl半金属的典型代表，TaAs是否拥有优异热电性能也引起了人们的关注。利用第一性原理计算和玻尔兹曼输运理论，研究电声耦合对TaAs电输运性质的影响。当考虑电声耦合效应时，得到TaAs在900 K下的最大热电优值Z_T为0.078,比之前的计算低了很多。研究结果有助于进一步认识Weyl半金属TaAs的输运性能。