基于改进YOLOv8s的PCB缺陷检测

罗青青; 舒升; 周正贵; 方银银

doi:10.16442/j.cnki.qlgydxxb.2025.05.005

齐鲁工业大学学报 ›› 2025, Vol. 39 ›› Issue (05) : 38 -44. DOI: 10.16442/j.cnki.qlgydxxb.2025.05.005

基于改进YOLOv8s的PCB缺陷检测

罗青青, 舒升, 周正贵, 方银银

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摘要

针对印刷电路板（PCB）缺陷微小难测问题，提出了一种基于改进YOLOv8s的PCB缺陷检测算法，该算法添加Transformer编码单元，并引入DwConv网络标准卷积，实现了提升实时检测PCB缺陷的精度，实验结果表明，改进之后的YOLOv8s模型，P_mA从0.909提升到了0.951,增加了4.2%。通过与其他主流目标检测方法相比，改进YOLOv8算法展示了更好的检测精度。