基于ATE的集成电路测试方案研究

吴琳

doi:10.19469/j.cnki.1003-3297.2024.02.0012

辽宁开放大学学报（自然科学版） ›› 2024, Vol. 0 ›› Issue (02) : 12 -16+35. DOI: 10.19469/j.cnki.1003-3297.2024.02.0012

基于ATE的集成电路测试方案研究

吴琳

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摘要

随着半导体和集成电路产业的发展与进步，利用自动测试设备开展集成电路自动化测试的研究，对于降低集成电路成本费用、促进集成电路发展，有着极为重要的实际价值。文章在总结集成电路测试分类的基础上，研究基于ATE的集成电路测试方案，分析了集成电路自动测试设备的发展和挑战，集成电路测试设备的软硬件架构，进而重点梳理集成电路测试的研究内容，总结出基于ATE的集成电路的测试方案。文章总结测试的各种因素，为设计更好的测试方案提供参考。