基于LK8810S的集成运放参数测试方案设计

摘要

利用先进的自动测试设备进行集成电路的自动化测试研究，对于有效降低集成电路的成本费用、加速集成电路技术的迭代升级，具有不可估量的实际价值。传统的芯片测试不仅步骤烦琐，而且容错率较低，任何细微的错误都可能导致整个测试流程的失败。如何在不增加额外成本的前提下，快速有效地解决测试错误，实现测试板卡的灵活替代，成为我们亟须攻克的关键技术难题。基于LK8810S集成电路测试平台的测试方案，以通用集成运放LM358为例，提出了一种创新的测试方法，即利用面包板快速搭建外围测试电路，替代传统的测试板卡。通过实际测试数据的分析，验证了该方案的可行性与高效性，具有显著的实用价值，为集成运放参数测试开拓了新思路，同时实现了“岗课赛证”育人体系在产教融合中的深度实践，助力集成电路产业链效能提升。

关键词

自动测试设备 / 集成运放 / 模拟芯片测试