基于ATE的时基集成电路电气参数测试方案设计

摘要

随着半导体技术的持续飞跃发展,中规模时基集成电路在通信、计算机、消费电子等多元化领域的应用变得愈发广泛且深入。因此,对它们进行全面且精确的参数测试,成了确保系统高效运行的关键所在。依托LK8810S集成电路测试设备,选取中规模通用时基集成电路NE555作为测试实例,提出了一种创新的参数测试方案,即利用面包板快速搭建灵活的外围测试环境,有效替代了传统方法中烦琐且昂贵的专用测试板卡。关键优势在于显著降低测试成本和测试周期,与专用测试板比较材料单次测试成本从约1 000元降至约300元,测试周期从5～6周缩短至0.5～2小时。此种测试方案可操作性强,为时基集成电路的参数测试探索出了一条新的路径,并且推动了“岗课赛证”综合育人模式的融通和实践,提升了集成电路产业链效率。

关键词

自动测试设备 / 时基集成电路测试 / NE555 / LK8810S