电子元器件失效风险识别中的检测技术研究

李星儒 ,  郭可欣

科技创新与工程 ›› 2026, Vol. 3 ›› Issue (1) : 38 -40.

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科技创新与工程 ›› 2026, Vol. 3 ›› Issue (1) : 38 -40. DOI: 10.12349/tie.v3i1.9001

电子元器件失效风险识别中的检测技术研究

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Research on Detection Technologies in Failure Risk Identification of Electronic Components

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摘要

电子元器件失效风险识别乃是保障电子系统可靠性的关键所在。本文依据物质特性与能量交互原理,构建起多维度检测技术体系,涉及外观检查、电性能测试、无损检测、环境应力筛选以及材料分析这五大技术方向。借助跨学科理论的融合,解析检测技术在显性缺陷与隐性风险识别中的运作机制,揭示微观结构变化向宏观性能异常的传导路径。所获研究成果为电子元器件全生命周期管理赋予了理论支持,促使检测技术从被动诊断朝主动预防转变,对提高产业质量控制水准有重大参考意义。

Abstract

Risk identification of electronic component failure is the key to ensuring the reliability of electronic systems. This article constructs a multidimensional detection technology system based on the principles of material properties and energy interaction, involving five major technical directions: appearance inspection, electrical performance testing, non-destructive testing, environmental stress screening, and material analysis. By integrating interdisciplinary theories, analyze the operational mechanism of detection technology in identifying explicit defects and implicit risks, and reveal the transmission path from microstructural changes to macroscopic performance anomalies. The research results obtained provide theoretical support for the full life cycle management of electronic components, promoting the transformation of detection technology from passive diagnosis to active prevention, and have significant reference significance for improving the quality control level of the industry.

关键词

电子元器件 / 失效风险识别 / 检测技术

Key words

electronic components / Failure risk identification / detection technology

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李星儒,郭可欣. 电子元器件失效风险识别中的检测技术研究[J]. 科技创新与工程, 2026, 3(1): 38-40 DOI:10.12349/tie.v3i1.9001

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