电离辐射诱发小麦品种扬麦20染色体变异分析

刘子煜, 刘祉佚, 任婧, 董一龙, 亓增军

山西农业科学 ›› 2025, Vol. 53 ›› Issue (02) : 75 -82.

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电离辐射诱发小麦品种扬麦20染色体变异分析

    刘子煜, 刘祉佚, 任婧, 董一龙, 亓增军
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摘要

为准确鉴定电离辐射诱导的染色体变异规律,采用200Gy 60Co-γ射线辐照扬麦20的干种子,对辐射后代M2和M3单株进行ONPM#7 FISH分析。结果表明,从103个M2单株中发现30株存在染色体结构变异,平均每株包含染色体变异1.27种,变幅为1~3种,共包含38种变异类型,其中,结构变异36种,复杂变异2种,而结构变异又包括3种简单易位、27种相互易位、1种端体、2种缺失和3种未知变异。除小麦染色体5D外,其余20条染色体均发生了结构变异,其中,涉及A基因组染色体的变异占比最高(41.5%),对于单染色体而言,6A、3A和7D等发生了更多的染色体重排现象。M2突变体在株高、分蘖、穗长和小穗数等性状上均存在变异,其中,株高和穗长变化较大。综上所述,M2中的变异染色体可以稳定传递到后代。

关键词

小麦 / 电离辐射 / 染色体 / 结构变异 / 染色体工程

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电离辐射诱发小麦品种扬麦20染色体变异分析[J]. 山西农业科学, 2025, 53(02): 75-82 DOI:

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