基于子阵列自适应成像的RCS测量方法

廖可非; 刘扬; 欧阳缮

doi:10.16725/j.cnki.cn45-1351/tn.2020.04.002

桂林电子科技大学学报 ›› 2020, Vol. 40 ›› Issue (04) : 270 -273. DOI: 10.16725/j.cnki.cn45-1351/tn.2020.04.002

基于子阵列自适应成像的RCS测量方法

廖可非, 刘扬, 欧阳缮

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摘要

为了解决复杂目标特定观测角度下回波不相参,进而影响基于成像的雷达散射截面积(RCS)测量精度的问题,基于三维后向投影(BP)算法,提出了一种基于子阵列自适应成像的目标RCS测量方法。该方法通过设置一个互相关系数,将全(虚拟)阵列自适应划分为若干个子阵列,对每个子阵列的回波数据分别成像并反演RCS,将所有的RCS曲线拼接,得到完整的RCS曲线。经仿真数据验证,该方法效果良好,可以改善计算得到RCS曲线的均值与方差。