基于多应力加速退化的机载电子部件可靠性试验方法
王鹏, 田润操, 杜洪光, 丛玮, 张帆, 于光, 杨吕珊
中国民航大学学报 ›› 2024, Vol. 42 ›› Issue (05) : 1 -8.
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