等离子体破裂期间逃逸电流平台的研究

摘要

研究HL-2A装置等离子体破裂期间逃逸电流平台形成特性,利用2种不同的数值模拟方法研究等离子体破裂后逃逸电流平台,拟合结果表明2种方法下逃逸电流平台形成趋势相同.利用诊断系统观察到持续时间为120 ms的电流平台,等离子体破裂期间欧姆电流转化为逃逸电流的转换率高达72%.

关键词

等离子体破裂 / 逃逸电子 / 逃逸电流